RoHS ELV WEEE 等の環境規制に対応した表面処理インフォメーション
半導体リードフレーム外装メッキ

■特徴
RoHS指令等の環境規制に対応し、ICリードフレームSn-Pbハンダ外装メッキの代替として、Snメッキ/Sn-Biメッキの量産対応が出来ます。
また、お客様のニーズにより、Sn-Pbハンダメッキにもご対応いたします。

・1982年から長期にわたるリードフレーム外装メッキでの信頼と実績
・ICP発光分光分析装置によりRoHS規制物質含有量をロット単位で分析可能
・インラインデフラッシュ(ライン内でモールド樹脂フラッシュ除去)による工程短縮
・365日24時間稼動でジャストインタイム生産方式に対応
・SPC(Statistical Process Control:統計的工程管理)による品質保証体制

メッキ特性の詳細な評価結果については、別途御連絡下さい。

■主な用途
半導体リードフレーム:42アロイ材(鉄-ニッケル合金)、銅合金材
 


SnBiメッキSEM写真 倍率:×75倍

 
■はんだ濡れ性(ゼロクロスタイム)比較
    Sn−Bi Sn−Pb
組成(%) 1%Bi 2%Bi 3%Bi Sn−10%Pb
半田濡れ性
 ゼロクロスタイム(sec)
N=10
N=10
N=10
N=10
 170℃×4Hr(予備加熱)
半田槽    Sn−Ag−Cu−Bi
半田槽    Sn−Pb
 
2.38
1.12
 
0.48
1.02
 
0.96
0.78
――――――
 170℃×48Hr
半田槽    Sn−Ag−Cu−Bi
半田槽    Sn−Pb
 
2.54
1.4
 
1.11
1.23
 
1.11
1.03
――――――
 スチームエージング
半田槽    Sn−Ag−Cu−Bi
半田槽    Sn−Pb
 
1.99
1.78
 
2.00
0.51
 
1.84
1.36
 
0.51
0.54
1.メニスコ条件
  時間;10sec 深さ;2.0mm 速度;5mm/sec 槽温度;240℃ フラックス;R100−40(日本アルファメタルズ)
2.Sn−Ag−Cu−Bi  M42(千住金属製)
 
■めっき被膜粒子比較
一般的なSnBiめっき表面
SEM写真×3500倍
弊社SnBiめっき表面
SEM写真×3500倍

弊社のスズビスマスメッキ被膜は粒子が緻密であり、ICリードフレームメッキ後工程の加工性、フォーミング金型のメンテナンス性に優れています。


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